Profiling hydrogen in materials using ion beams

J. F. Ziegler, C. P. Wu, P. Williams, C. W. White, B. Terreault, B. M.U. Scherzer, R. L. Schulte, E. J. Schneid, C. W. Magee, E. Ligeon, J. L. 'Ecuyer, W. A. Lanford, F. J. Kuehne, E. A. Kamykowski, W. O. Hofer, A. Guivarc'h, C. H. Filleux, V. R. Deline, C. A. Evans, B. L. CohenG. J. Clark, W. K. Chu, C. Brassard, R. S. Blewer, R. Behrisch, B. R. Appleton, D. D. Allred

Research output: Contribution to journal › Article › peer-review