Measurement of the inclusive semielectronic [Formula presented] branching fraction

Y. Kubota, M. Lattery, J. K. Nelson, S. Patton, R. Poling, T. Riehle, V. Savinov, R. Wang, M. S. Alam, I. J. Kim, Z. Ling, A. H. Mahmood, J. J. O'Neill, H. Severini, C. R. Sun, S. Timm, F. Wappler, G. Crawford, J. E. Duboscq, R. FultonD. Fujino, K. K. Gan, K. Honscheid, H. Kagan, R. Kass, J. Lee, M. Sung, C. White, R. Wanke, A. Wolf, M. M. Zoeller, X. Fu, B. Nemati, W. R. Ross, P. Skubic, M. Wood, M. Bishai, J. Fast, E. Gerndt, J. W. Hinson, T. Miao, D. H. Miller, M. Modesitt, E. I. Shibata, I. P.J. Shipsey, P. N. Wang, L. Gibbons, S. D. Johnson, Y. Kwon, S. Roberts, E. H. Thorndike, T. E. Coan, J. Dominick, V. Fadeyev, I. Korolkov, M. Lambrecht, S. Sanghera, V. Shelkov, R. Stroynowski, I. Volobouev, G. Wei, M. Artuso, M. Gao, M. Goldberg, D. He, N. Horwitz, S. Kopp, G. C. Moneti, R. Mountain, F. Muheim, Y. Mukhin, S. Playfer, T. Skwarnicki, S. Stone, X. Xing, J. Bartelt, S. E. Csorna, V. Jain, S. Marka, D. Gibaut, K. Kinoshita, P. Pomianowski, S. Schrenk, B. Barish, M. Chadha, S. Chan, D. F. Cowen, G. Eigen, J. S. Miller, C. O'Grady, J. Urheim, A. J. Weinstein, F. Würthwein, D. M. Asner, M. Athanas, D. W. Bliss, W. S. Brower, G. Masek, H. P. Paar, J. Gronberg, C. M. Korte, R. Kutschke, S. Menary, R. J. Morrison, S. Nakanishi, H. N. Nelson, T. K. Nelson, C. Qiao, J. D. Richman, D. Roberts, A. Ryd, H. Tajima, M. S. Witherell, R. Balest, K. Cho, W. T. Ford, M. Lohner, H. Park, P. Rankin, J. Roy, J. G. Smith, J. P. Alexander, C. Bebek, B. E. Berger, K. Berkelman, K. Bloom, T. E. Browder, D. G. Cassel, H. A. Cho, D. M. Coffman, D. S. Crowcroft, M. Dickson, P. S. Drell, D. J. Dumas, R. Ehrlich, R. Elia, P. Gaidarev, B. Gittelman, S. W. Gray, D. L. Hartill, B. K. Heltsley, S. Henderson, C. D. Jones, S. L. Jones, J. Kandaswamy, N. Katayama, P. C. Kim, D. L. Kreinick, T. Lee, Y. Liu, G. S. Ludwig, J. Masui, J. Mevissen, N. B. Mistry, C. R. Ng, E. Nordberg, J. R. Patterson, D. Peterson, D. Riley, A. Soffer, C. Ward, P. Avery, A. Freyberger, K. Lingel, C. Prescott, J. Rodriguez, S. Yang, J. Yelton, G. Brandenburg, D. Cinabro, T. Liu, M. Saulnier, R. Wilson, H. Yamamoto, T. Bergfeld, B. I. Eisenstein, J. Ernst, G. E. Gladding, G. D. Gollin, M. Palmer, M. Selen, J. J. Thaler, K. W. Edwards, K. W. McLean, M. Ogg, A. Bellerive, D. I. Britton, E. R.F. Hyatt, R. Janicek, D. B. MacFarlane, P. M. Patel, B. Spaan, A. J. Sadoff, R. Ammar, P. Baringer, A. Bean, D. Besson, D. Coppage, N. Copty, R. Davis, N. Hancock, S. Kotov, I. Kravchenko, N. KwakShow 184 othersShow less